東京精密測針的使用原則及材料選擇
點擊次數(shù)：1417 更新時間：2022-05-19
東京精密測針是坐標(biāo)測量機(jī)的重要組成部分，是直接來觸測工件表面的，并且沿著工件表面移位，產(chǎn)生信號觸發(fā)氣并收集并傳輸測量數(shù)據(jù)。
一般的測針都是由一個桿和紅寶石球組成。通過需要測量的特征，您可以判斷應(yīng)當(dāng)使用探針的類型和尺寸。為保證一定的測量精度，在對東京精密測針的使用上，需要了解以下幾點：
1、探針長度盡可能短：因為探針彎曲或偏斜越大，精度將越低。因此在測量時，盡可能采用短探針，這樣能夠減少彎曲保證精度。
2、連接點少：每次將探針與加長桿連接在一起時，您就額外引入了新的潛在彎曲和變形點。因此在應(yīng)用過程中，盡可能減少連接的數(shù)目。
3、使測球盡可能大，主要原因有兩個：
A.使得球/桿的空隙大，這樣減少了由于"晃動"而誤觸發(fā)的可能；
B.測球直徑較大可削弱被測表面未拋光對精度造成的影響。
東京精密測針常見的測球的材料是紅寶石，因為紅寶石是目前已知堅硬的材料之一。紅寶石球具有良好的表面光潔度，并具有優(yōu)異的耐壓強(qiáng)度和抗碰撞性。
只有少數(shù)情況不適宜采用紅寶石球，如下兩種情況下，推薦采用其他材料制成的測尖：
一是在高強(qiáng)度下對鋁材料制成的工件進(jìn)行掃描。主要原因在于材料吸引，基于一個稱為"膠著磨損"的現(xiàn)象會在觸測過程中發(fā)生。在這種情況下，一個較好的選擇是氮化硅。
二是對鑄鐵材料工件進(jìn)行高強(qiáng)度掃描，這時會在紅寶石表面產(chǎn)生"磨損"。在這種情況下，推薦使用氧化鋯球。
